CMA 检验检测能力项目库

共 380051 条记录,覆盖环境监测、食品检验、建材检测等领域 数据来源: 国家认监委

类型: GB — 找到 147700 条结果 清除筛选
领域 标准(方法)名称 标准编号 检测项目 产品 操作
产品质量检验 交流系统用高压绝缘子人工污秽试验方法 GB/T4585.2-1991 人工污秽耐受电压
产品质量检验 重载齿轮箱加速疲劳试验技术规范 GB/T45861-2025
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 y参数(A、B和C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 功率场效应晶体管沟道-管壳的瞬态热阻抗和热阻 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 噪声(A、B和C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 小信号短路反馈电容(A、B和C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 小信号短路正向跨导(A、B和C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 小信号短路输入电容(A、B和C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 小信号短路输出电容(A、B和C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 小信号短路输出电导(A、B和C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 开关时间(A、B和C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 散射参数 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 栅-源截止电压(A和B型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 栅-源截止电压(A和B型)VGSoff 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 栅-源阈值电压(C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 正向偏置安全工作区和反向偏置安全工作区 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 漏极截止电流(A、B和C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 漏极电流(A、B和C型) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 漏极电流(A、B和C型)ID 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 结栅型(A型)的栅极截止电流 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 绝缘栅型(B型和C型)的栅极漏泄电流 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 通态漏-源电阻(在小信号条件下) 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 静态漏-源通态电阻rDSon 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994 静态漏-源通态电阻或漏-源通态电压和断态电阻 来源
产品质量检验 弹簧测量和试验参数第1部分:冷成形圆柱螺旋压缩弹簧 GB/T45870.1-2025
产品质量检验 弹簧测量和试验参数第2部分:冷成形圆柱螺旋拉伸弹簧 GB/T45870.2-2025
产品质量检验 半导体器件分立器件第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-2023 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-2023 发射极-基极截止电流(直流法)IEBO 来源
产品质量检验 半导体器件分立器件第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-2023 发射极电流为零时的集电极-击穿电压V(BR)CBO 来源